光譜透過率測量
全光譜透射比測量儀的應(yīng)用
全光譜透射率測量儀(TSM)可以測量非常廣泛的產(chǎn)品,如:玻璃鏡片、汽車絕緣紙、建筑絕緣紙、玻璃、燈罩、濾波器、晶片、LED擴(kuò)散器等。
全光譜透射比測量儀的優(yōu)點(diǎn)和特點(diǎn)
?超小型,便攜式。
?校準(zhǔn)要求低,維護(hù)成本低。
?定制靈活性
?高分辨率可編程設(shè)計微控制器
?抗震、防震。
?方便的數(shù)據(jù)存儲。
?清晰易懂的數(shù)據(jù)輸出格式。
?穩(wěn)定的測量數(shù)據(jù)。
?測量的光譜參數(shù)
?特定波長
?可見光平均透過率
?透射率顏色
?CIE
?CCT
?CRI


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